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N1型提升力試塊 規(guī)格為:45牛頓,約5Kg N2型提升力試塊 規(guī)格為:118牛頓,約12Kg N3型提升力試塊 規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

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TD型 磁場指示器(亦稱八角試塊)，是用電爐銅焊將八塊低碳鋼與銅片焊在一起構(gòu)成的，有一個非磁性的手柄，用途與標(biāo)準(zhǔn)試片基本相同，但比試片經(jīng)久耐用，操作簡便。

B型 直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊(亦稱12孔試塊)或直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊，直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊在美國稱BETZ環(huán)同效，用AISI01克托斯鉻鎢錳工具鋼制成，洛氏硬度HRC=90～95，環(huán)上鉆有直徑0.07英寸的通孔12個，中心孔徑為31.8mm。適用于檢驗磁粉探傷設(shè)備磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度)，用于考察試驗條件和操作方法是否恰當(dāng)。但不能確定磁化規(guī)范、磁場方向和有效磁化范圍。

E型磁粉探傷試塊(3孔試塊)與日本B型試塊接近。交流環(huán)形試塊的鋼環(huán)用含碳量不大于0.15％的軟鋼制成，鋼環(huán)用膠木做襯墊，套在銅棒上，鋼環(huán)上鉆有直徑1mm的3個孔，孔中心距表面分別為1、1.5、2mm。適用于檢驗磁粉探傷設(shè)備、磁粉、磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),也用于察試驗條件和操作方法是否恰當(dāng)。

缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場 件號：519630 型號：KSC-230 件號：521048 型號：KSC-430 說明：標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸